EMVCo L1测试系统

EMV™是基于接触式和非接触式智能卡技术的支付卡和读卡器的全球标准。EMV规范包括由EMVCo管理的测试程序和合规流程，EMVCo是由美国运通、Discover、JCB、万事达、银联和Visa共同拥有和运营的组织。
我司提供KEOLABS根据EMVCo要求开发和认证的完整测试解决方案。

EMVCo L1测试系统支持规范

EMVCo Test suite for PICC Analog
• EMV Contactless Card Level 1 Type Approval – PICC Analogue Test Bench and Test Case Requirements, Version 3.2b, January 2025

EMVCo Test suite for PICC Digital
• EMV® Level 1 Specifications for Payment Systems - EMV® Contactless Interface Specification", Version 3.2 - July 2022
• EMV® Contactless Card Level 1 Type Approval - PICC Digital Test Cases", Version 3.2b - January 2025
• EMV® Mobile Product Level 1 Type Approval - Mobile L1 Test Guidelines", Version 3.2b - January 2025

EMVCo Test suite for Mobile Analog
• EMV Contactless Card Level 1 Type Approval – PICC Analogue Test Bench and Test Case Requirements, Version 3.2b, January 2025
• Mobile L1 Test Guidelines, Version 3.2b, January 2025

EMVCo Test suite for PCD Analog
• EMV® Level 1 Specifications for Payment Systems - EMV® Contactless Interface Specification, Version 3.2 - July 2022
• EMV® Contactless Terminal Level 1 Type Approval - PCD Analogue Test Bench and Test Case Requirements, Version 3.2a - January 2025

EMVCo Test suite for PCD Digital
• EMV® Level 1 Specifications for Payment Systems - EMV® Contactless Interface Specification" - Version 3.2 - July 2022
• EMV® Contactless Terminal Level 1 Type Approval – PCD Digital Test Cases", Version 3.2a - January 2025

EMVCo Test suite for Reduced Range Terminal Analog
• EMVCo Contactless Terminal Level 1 Type Approval PCD Analogue Test Bench and Test Case Requirements, Version 3.1a, September 2021
• EMV RR L1 Test Guidelines, version 3.1a, September 2023

EMVCo L1非接终端测试系统明细

 一套 SCRIPTIS™ 测试软件平台
 一套EMVCo L1 PICC Analog测试案例库 
 一套EMVCo L1 PICC Digital测试案例库
 一套EMVCo L1 Reduced Range Terminal Analog测试案例库

 一台带PICC Analog和Digital 仿真的ProxiLAB QUEST 

 一套 EMVCo L1天线件套件包括如下：
• SC-EMVCo Test PICC V3.0：3个EMVCo PICC天线：13.56 MHz（class1)，16.1MHz（class1) ，13.56MHz（class3)。
• SC-EMVCo Test PCD V3.0：一个EMVCo PCD 天线。

• SC-EMVCo KIT：用于安装带有堆叠器的测试PCD的支架和1个CMR，用于调节信号并在其输入和输出之间切换，以进行测试台设置。

 一套带有专用配件的5轴或6轴机械臂(可选) 

 一台有Xdev 选项的LeCroy 数字示波器 

 一台50W, 10-250 MHz 的功率放大器  

EMVCo L1非接终端测试套件：EMVCo L1 PCD Analog 测试案例库

此EMVCo L1 PCD Analog测试套件符合以下标准：
EMV® Level 1 Specifications for Payment Systems - EMV® Contactless Interface Specification, Version 3.2 - July 2022
EMV® Contactless Terminal Level 1 Type Approval - PCD Analogue Test Bench and Test Case Requirements, Version 3.2a - January 2025

我们对本测试规范的涵盖范围包括以下测试用例（根据EMVCo 3.2a版本编号）： 

射频功率 
•  §8.8.1.1. TAB111.zrf – 验证 PCD带 PICC的电源传输
•  §8.8.1.2. TAB112.200 – 验证 PCD载波频率 
•  §8.8.1.3. TAB113.200 – 验证 PCD操作区域重置 
•  §8.8.1.4. TAB114.200 – 验证操作区域的 PCD电源关闭
•  §8.8.1.5. TAB115.200 – 在支持其他技术时验证轮询序列
•  §8.8.1.6. TAB116.200 – 验证PCD操作场的暂停

A型通信的PCD 至PICC信号接口 
•  §8.8.2.x. TA12x.z00 - 验证PCD定时

A型通信的PICC 至PCD信号接口 
•  §8.8.3.1. TA131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.3.2. TA132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.3.3. TA133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.3.4. TA134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.3.5. TA135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.3.6. TA136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.3.7. TA137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1，pp
•  §8.8.3.8. TA138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.3.9. TA139.000 - 验证FDTA，PICC公差 

A型通信的位级编码信号接口 
•  §8.8.4.1. TA141.200 - 验证PCD传输的比特率 
•  §8.8.4.2. TA142.200 - 验证位编码和 PCD 至PICC的去同步 
•  §8.8.4.3. TA143.200 - 验证位编码和 PICC 至PCD的去同步  

用于A类通信的PCD IQ解调
•  §8.8.8.1. TA151.200 验证 PCD IQ解调 

B型通信的PCD 至PICC信号接口 
•  §8.8.5.x. TB12x.z00 - 验证PCD定时

B型通信的PICC 至PCD信号接口 
•  §8.8.6.1. TB131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.6.2. TB132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.6.3. TB133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.6.4. TB134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.6.5. TB135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.6.6. TB136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.6.7. TB137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.6.8. TB138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2，pp

用于B型通信的比特级编码信号接口 
•  §8.8.7.1. TB141.200 - 验证 PCD传输的比特率 
•  §8.8.7.2. TB142.200 - 验证 PCD与 PICC的同步、位编码和去同步
•  §8.8.7.3. TB145.200 - 验证 PICC到 PCD的最大不同步限制（tFSOFF，MAX）
•  §8.8.7.4. TB147.200 - 用 B类通信验证比特边界 
•  §8.8.7.5. TB148.200 - 验证 PICC到 PCD的最小失步限制（tFSOFF，MIN）

用于B型通信的PCD IQ解调
•  §8.8.8.1. TB151.200 验证 PCD IQ解调 

EMVCo L1非接终端测试套件：EMVCo L1 PCD Digital 测试案例库

此EMVCo L1 PCD Digital测试套件符合以下标准：
EMV® Level 1 Specifications for Payment Systems - EMV® Contactless Interface Specification" - Version 3.2 - July 2022
EMV® Contactless Terminal Level 1 Type Approval – PCD Digital Test Cases", Version 3.2a - January 2025

我们对本测试规范的覆盖范围包括以下测试用例（根据EMVCo版本3.2a进行编号）： 

A型测试
• §4.1. TA001 -基本 A类交换（单尺寸UID）和计时测量
• §4.2. TA002 – A型正确移除
• §4.3. TA003.x - 基于 A类交换机的PCD到PICC的最小和默认最大帧延迟时间
• §4.4. TA004.x - A型正确存在检查
• §4.5. TA101.x - 具有双倍和三倍UID大小的A型安装 
• §4.6. TA102.x - 支持 ATQA值的A型安装 
• §4.7. TA103.x - 支持 SAK 和ATS 的TA(1)字节值的A 型安装 
• §4.8. TA104.xy - 支持 ATS的TL字节（和历史字节）值的A 型安装 
• §4.9. TA105.xy - 在 ATS的 TB（1）字节中支持SFGI值的A 型安装 
• §4.10. TA106.x - 支持 ATS的TC（1）字节值的A型安装 
• §4.11. TA108 - 使用响应HLTA命令的A型框架的A 型安装 
• §4.12. TA110.x - 具有不同ATQA值的A型安装 
• §4.13. TA112.x  - 每次PICC响应后出现“噪音”的A类安装
• §4.14. TA201.xy - A类无错误的非链式I-Block交换所有可能的FWT值
• §4.15. TA202.xy - 类型 A对于FSC的不同值在两个方向上的无错误链式I-Block
• §4.16. TA203.xy - 类型 A FSC=16到256字节的无错误链式I-Block传输
• §4.17. TA204.x - A型无错误请求在非链式I-Block上延长帧等待时间
• §4.18. TA205.x - 类型A双向链接期间帧等待时间扩展的无错误请求 
• §4.19. TA206 - 具有不同FSD值的两个方向上的A类无错误链式I-Block
• §4.20. TA210 - 具有罕见帧大小的A类无差错链式I-Block接收 
• §4.21. TA215.x - 对于不同的帧等待时间值，具有最小帧延迟时间PCD到PICC的A类无错误交换 
• §4.22. TA216.x 每次 PICC响应后，A类I-Block交换和请求具有“噪声”的帧等待时间延长
• §4.23. TA301.xy – 在 WUPA后出现错误的A类轮询 
• §4.24. TA302.xy - 防撞 CL1之后出错的A类碰撞检测
• §4.25. TA303 - 检测A型然后B型PICC的A型轮询 
• §4.26. TA304.xy – 在 WUPA后出现错误的A类碰撞检测 
• §4.27. TA305.xy – 在选择 CL1后出现一个错误的A类碰撞检测
• §4.28. TA306.xy – 在 RATS后出现错误的A型激活 
• §4.29. TA307.x – 在 RATS后用“噪音”激活A型
• §4.30. TA310 - 在防撞CL1后超时的 A类碰撞检测
• §4.31. TA311.x – 在 WUPA后超时的A类碰撞检测 
• §4.32. TA312 – 在选择CL1后超时的A类碰撞检测
• §4.33. TA313 – 在 RATS后超时的A型激活 
• §4.34. TA335.xy – 在 RATS后用EMD抑制行为所对应的A型激活
• §4.35. TA340.x - 在 RAT后“失聪时间”锁对应的A型激活 
• §4.36. TA401.xy – 在不指示链接的I-Block上的A型错误通知 
• §4.37. TA402 - 在不指示链接的I-Block上的A型超时 
• §4.38. TA403.x - 在不指示链接的I-Block上的A型传输错误
• §4.39. TA404.xy - 在不指示链接的I-Block上的A型协议错误 
• §4.40. TA405.xy - 指示链接的I-Block上的A型错误通知 
• §4.41. TA406 - 指示链接的I-Block上的A型超时 
• §4.42. TA407.x - 指示链接的I-Block上的A型传输错误 
• §4.43. TA408.xy - 指示链接的I-Block上的A型协议通知 
• §4.44. TA409.xy – 在 R（ACK）块后的A型超时（即错误通知）
• §4.45. TA410.x – 响应 R（ACK）块的A型传输错误 
• §4.46. TA411.xy - 响应 R（ACK）块的A类协议错误 
• §4.47. TA412.xy – 在 S（WTX）响应块（WTXM的几个值）之后的A型单个超时
• §4.48. TA413 - 在单个S（WTX）请求后FWT扩展 的A型重复使用
• §4.49. TA414.x - 响应于未指示链接的I-Block的A型“噪声”
• §4.50. TA415.x - 响应于指示链接的I-Block的A型“噪声”
• §4.51. TA416.x - 响应R（ACK）块的A型“噪声” 
• §4.52. TA417.xy - 响应发送来通知传输错误的R（NAK）块的A型协议错误
• §4.53. TA419.xy - R（NAK）后出现错误的A类存在检查
• §4.54. TA420 - 在 WUPA后出现错误的A 型删除
• §4.55. TA421 - 在S（WTX） 响应块后的A 型连续超时
• §4.56. TA430.xy - 关于 EMD抑制行为的A型块协议 
• §4.57. TA435.x - 关于EMD抑制行为的A型块协议 
• §4.58. TA440 - 序列的前4个字节的A 型奇偶校验错误，以响应不指示链接的I-Block 
• §4.59. TA441 - 序列的前4个字节的A 型奇偶校验错误，以响应指示链接的I-Block
• §4.60. TA442 - 序列的前4个字节的A 型奇偶校验错误，以响应R（ACK）块
• §4.61. TA443 - 序列的前4个字节中的A 型奇偶校验错误，以响应S（WTX）响应块

B型测试：
• §5.1. TB000 - B型预试验确定TR1PUTMIN
• §5.2. TB001 - 基本B型交换和计时测量
• §5.3. TB002.x - 支持 SoS和EoS 的基本B类交换
• §5.4. TB003 - B型正确移除
• §5.5. TB004.x - 基于 B 型交换的PCD 至PICC的最小和默认最大帧延迟时间 
• §5.6. TB006.x - 具有最小和最大字符间延迟的基本B类交换
• §5.7. TB007.x - 确保PCD在B型PICC的存在检查过程中遵守时间和一系列命令
• §5.8. TB101.x - 支持 ADC值的B型安装 
• §5.9. TB102.x - 支持 ADC值的B型安装
• §5.10. TB104.x - 支持比特率功能值的B 型安装 
• §5.11. TB106.x - 支持ADF 值的B 型安装 
• §5.12. TB107.x - 支持协议类型b4-b2值的B 型安装 
• §5.13. TB108.x - 支持MBLI 值的B 型安装 
• §5.14. TB110.x - 具有不同ATQB值的B型安装 
• §5.15. TB201.xy - 为所有可能的FWT 值的B型无错误非链式I-Block交换
• §5.16. TB202.xy - 为所有可能的FWT 值的B型无错误非链式I-Block交换
• §5.17. TB203.xy - 为 FSC=16 至128字节的B 型无错误链式I-Block传输
• §5.18. TB204.x - 非链式I-Block上的帧等待时间延长的B 型无错误请求 
• §5.19. TB205.x - 在双向链接期间帧等待时间延长的B 型无错误请求 
• §5.20. TB206 -  具有不同FSD值的两个方向上的B型无错误链式I-Block
• §5.21. TB210 - 具有罕见帧大小的B 型无差错链式I-Block接收
• §5.22. TB215.x - 针对不同的帧等待时间值，有PCD 至PICC的最小帧延迟时间的B型无差错交换
• §5.23. TB301.xy - 在 WUPB之后出现错误的B 型轮询
• §5.24. TB303 - 检测B型然后A型PICC 的B型轮询 
• §5.25. TB304.xy - 在 WUPB后出现错误的B 型碰撞检测 
• §5.26. TB305.x - 在 ATTRIB后用“噪声”激活B型 
• §5.27. TB306.xy - 在 ATTRIB后出现错误的B型激活
• §5.28. TB311.x - 在 WUPB后超时的B 型碰撞检测 
• §5.29. TB312.x - 在 ATTRIB后超时的B型激活
• §5.30 TB335.xy - 在 ATTRIB后用EMD抑制行为所对应的B型激活
• §5.31. TB340.x - 在 ATTRIB后“失聪时间”所对应的B 型激活
• §5.32. TB401.xy - 在不指示链接的I-Block上的B 型错误通知 
• §5.33. TB402 - 在I-Block不指示链接之后的B 型超时 
• §5.34. TB403.x - 不指示链接的I-Block所对应的B型传输错误
• §5.35. TB404.xy -不指示链接的I-Block所对应的B 型协议错误 
• §5.36. TB405.xy - I-Block 指示链接上的 B型错误通知
• §5.37. TB406 - I-Block 指示链接之后的B 型超时 
• §5.38. TB407 - 响应指示链接的I-Block的B型传输错误
• §5.39. TB408.xy - 响应 I-Block指示链接的B 型协议错误 
• §5.40. TB409.xy - 在 R（ACK）块后的B 型超时（即错误通知） 
• §5.41. TB410.x - 响应于R（ACK）块的B型传输错误
• §5.42. TB411.xy - 响应 R（ACK）块时的B 型协议错误 
• §5.43. TB412.xy - 在 S（WTX）响应块（WTXM的几个值）之后的B型单个超时
• §5.44. TB413 - 在单个S（WTX）请求后FWT扩展的B 型重复使用 
• §5.45. TB414.x - 响应I-Block不指示链接的B 型“噪声”   
• §5.46. TB415.x - 响应I-Block指示链接的B 型’噪声
• §5.47. TB416.x -响应于R（ACK）块的B 型“噪声”
• §5.48. TB417.xy - 响应发送来通知传输错误的R（NAK）块的B 型协议错误
• §5.49. TB419.x - R（NAK）后出现错误的B类存在检查
• §5.50. TB420 - 在 WUPB后出现错误的B 型删除 
• §5.51. TB421 - 在 S（WTX）响应块后的B型连续超时 
• §5.52. TB430.xy - 关于 EMD抑制行为的B型块协议 
• §5.53. TB435.x - 关于“失聪时间”的B 型块协议 

EMVCo L1非接终端测试套件：EMVCo L1 Reduced Range Terminal Analog 测试案例库

此EMVCo PCD模拟测试套件与以下标准兼容：
EMVCo Contactless Terminal Level 1 Type Approval PCD Analogue Test Bench and Test Case Requirements, Version 3.1a, September 2021
EMV RR L1 Test Guidelines, version 3.1a, September 2023

该测试套件还包括基于“EMV Terminal Type Approval Bulletin No. 276, First Edition April 2024 – Reduced Range Devices Acceptance Criteria“的EMVCo认证评分工具。
我们对本测试规范的涵盖范围包括以下测试用例（根据EMVCo 3.1a版本编号）： 

射频功率 
•  §8.8.1.1. TAB111.zrf – 验证 PCD带 PICC的电源传输
•  §8.8.1.2. TAB112.200 – 验证 PCD载波频率 
•  §8.8.1.3. TAB113.200 – 验证 PCD操作区域重置 
•  §8.8.1.4. TAB114.200 – 验证操作区域的 PCD电源关闭
•  §8.8.1.5. TAB115.200 – 在支持其他技术时验证轮询序列

A型通信的PCD 至PICC信号接口 
•  §8.8.2.x. TA12x.z00 - 验证PCD定时

A型通信的PICC 至PCD信号接口 
•  §8.8.3.1. TA131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.3.2. TA132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.3.3. TA133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.3.4. TA134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.3.5. TA135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.3.6. TA136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.3.7. TA137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1，pp
•  §8.8.3.8. TA138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.3.9. TA139.000 - 验证FDTA，PICC公差 

A型通信的位级编码信号接口 
•  §8.8.4.1. TA141.200 - 验证PCD传输的比特率 
•  §8.8.4.2. TA142.200 - 验证位编码和 PCD 至PICC的去同步 
•  §8.8.4.3. TA143.200 - 验证位编码和 PICC 至PCD的去同步  

用于A类通信的PCD IQ解调
•  §8.8.8.1. TA151.200 验证 PCD IQ解调 

B型通信的PCD至PICC信号接口 
•    §8.8.5.x. TB12x.z00 - 验证PCD定时

B型通信的PICC 至PCD信号接口 
•  §8.8.6.1. TB131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.6.2. TB132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.6.3. TB133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.6.4. TB134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.6.5. TB135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.6.6. TB136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2，pp 
•  §8.8.6.7. TB137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1，pp 
•  §8.8.6.8. TB138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2，pp

用于B型通信的比特级编码信号接口 
•  §8.8.7.1. TB141.200 - 验证 PCD传输的比特率 
•  §8.8.7.2. TB142.200 - 验证 PCD与 PICC的同步、位编码和去同步
•  §8.8.7.3. TB145.200 - 验证 PICC到 PCD的最大不同步限制（tFSOFF，MAX）
•  §8.8.7.4. TB147.200 - 用 B类通信验证比特边界 
•  §8.8.7.5. TB148.200 - 验证 PICC到 PCD的最小失步限制（tFSOFF，MIN）

用于B型通信的PCD IQ解调
•  §8.8.8.1. TB151.200 验证 PCD IQ解调

Scriptis功能介绍

支持Python编辑修改脚本

Scriptis保存测试日志：TXT格式

Scriptis保存测试日志：xgpa格式

Scriptis保存测试日志：xdada格式

Scriptis支持导出报表：PDF格式

Scriptis支持导出报表：html格式

关于KEOLABS测试系统

我司提供的Keolabs测试系统支持验证以下标准：
• EMV® Type Approval - Contactless Terminal Level 1
• EMV® Type Approval -  Contactless Card Level 1
• NFC Forum Test Cases for Analog and Digital Protocol
• ISO/IEC 10373-6 Test Methods
• ISO/IEC 18745-2 Test Methods for the contactless interface
• CEN/TS 16794-2:2017 Public transport - Communication between contactless readers and fare media - Part 2: Test plan for ISO/IEC 14443

KEOLABS提供完整的测试解决方案，支持根据特定应用类型的行业标准对智能卡和读卡器进行内部验证，包括：
•  支付：验证您付款申请的合格解决方案 - 由EMVCo实验室使用
  EMVCo Level 1 PCD Analog测试套件
  EMVCo Level 1 PCD Digital测试套件
  EMVCo Level 1 Reduced Range Terminal Analog测试套件
  EMVCo Level 1 PICC Analog测试套件
  EMVCo Level 1 PICC Digital测试套件
  EMVCo Level 1 Mobile Analog测试套件

• 电子护照和eID产品：验证您的身份申请的解决方案 - 由National Printing Companies使用
  ISO 10373-6/ISO 18745-2 PICC Analog测试套件
  ISO 10373-6/ISO 18745-2 PICC Digital测试套件
  ePassport-eMRTD Application测试套件
  eID-应用程序EAC V2和IAS ECC测试套件
  eDL-应用ISO 18013-4测试套件

• 访问控制、交通和智能对象：验证您的交通或访问控制应用程序的解决方案 - 由交通运营商使用
  ISO 10373-6 PICC Analog测试套件
  ISO 10373-6 PICC Digital测试套件
  ISO 10373-6 PCD Analog测试套件
  ISO 10373-6 PCD Digital测试套件

• 移动、汽车制造商：验证NFC应用的合格解决方案 - 供移动或汽车制造商使用
  NFC Forum Poller&Listener Analog测试套件
  NFC Forum Poller&Listener Digital测试套件
  NFC Forum Initiator&Target Applicative LLCP/SNEP测试套件