Keolabs ISO 10373-6非接测试系统，根据ISO 14443技术规范和ISO 10373-6测试规范开发的测试认证系统，应用于用户在开发过程中对其产品进行“内部”评估，然后再进行标准认证，一致性验证标准确保卡/票/智能对象和阅读器之间的ISO/IEC 14443和ISO/IEC 10373-6规范符合性和互操作性。
ISO 10373-6 测试系统提供以下测试套件：
ISO 10373-6 PICC Analog 测试套件
ISO 10373-6 PICC Digital 测试套件
ISO 10373-6 PCD Analog 测试套件
ISO 10373-6 PCD Digital 测试套件
对于10373-6规范的卡和读卡器，Keolabs提供现成的解决方案，以验证是否符合相关运输标准。
Keolabs ISO 10373-6模拟和数字测试解决方案可供用户在开发过程中对其产品进行“内部”评估，然后再进行标准认证，一致性验证标准确保卡/票/智能对象和阅读器之间的ISO/IEC 14443互操作性。
• ISO/IEC 10373-6 Test Methods
一套 SCRIPTIS™ 测试软件平台
一套 ISO 10373-6 PCD Analog 测试案例库
一套 ISO 10373-6 PCD Digital 测试案例库
一台带PICC Analog和Digital 仿真，PICC 负载调制，PICC VHBR的ProxiLAB QUEST
SC-PCD Assembly-4R7：基于最新的ISO 10373-6 规范，用于执行 ISO 14443 Layer 2高速(Rext 4.7 Ohm)测试的 PCD Assembly, class 1-3 。
SC-PCD Assembly-2R7：根据ISO 10373-6，用于非接触式智能卡高速（RExt: 4.7 Ohm）测试的PCD assembly，class 4-6 。
SC-RefPICC-KIT：根据ISO 10373-6标准，用于测试非接触式读卡器的PICC参考探头套件。
Passive Refrence PICC Class1~6(13.56MHz,15MHz,16.5MHz,19MHz):
Active Refrence PICC Class1~6:
一台有Xdev 选项的LeCroy 数字示波器
一台50W, 10-250 MHz 的功率放大器
此ISO 10373-6 PCD Analog测试套件符合以下标准：ISO/IEC 10373-6:2020 standard for Type A and Type B.
我们对本测试规范的覆盖范围包括以下测试用例（根据ISO/IEC 10373-6: 2020进行编号）
ISO/IEC 14443-1 参数测试:
• §6.1.1 - 交变磁场测试
ISO/IEC 14443-2 参数测试:
• §7.1.1 – PCD 场强
• §7.1.4 - 调制指数和波形
• §7.1.5 – 相位稳定性测试
• §7.1.6 - 用于PICC到PCD的fc/128、fc/64、fc/32和fc/16比特率的负载调制接收
• §7.1.7 - 用于PICC到PCD的负载调制接收，比特率为fc/8、fc/4和fc/2
• §7.1.8 - PCD EMD抗扰度测试
此ISO 10373-6 PCD Digital测试套件符合以下标准：ISO/IEC 10373-6:2020 standard for Type A and Type B.
我们对本测试规范的覆盖范围包括以下测试用例（根据ISO/IEC 10373-6:2020进行编号）
ISO/IEC 14443-3 and ISO/IEC 14443-4 参数测试:
• §8.1.1 - PCD EMD 恢复测试
A型特定测试:
• §H.2.1 - PICC到 PCD的帧延迟时间
• §H.2.2 - 请求保护时间
• §H.2.3 - ATQA过程中的碰撞处理
• §H.2.4 - 防撞循环的处理
• §H.2.5 - RATS和ATS的处理
• §H.2.7 - 框架尺寸选择机制
• §H.2.8 - 启动机架保护时间的处理
• §H.2.9 - PCD激活期间CID的处理
• §H.2.10 - 奇偶校验位的处理
B型特定测试:
• §H.3.2 - 框架尺寸选择机制
• §H.3.3 - PCD激活期间CID的处理
• §H.3.4 - 帧延迟时间PICC到PCD（TR2）
• §H.3.5 - 启动机架保护时间的处理
• §H.3.6 – B型PCD框架试验
A型和 B型 逻辑运算测试:
• §H.4.2 - 轮询循环的处理
• §H.4.3 - PCD对延长等待时间请求的反应
• §H.4.4 - 错误检测和恢复
• §H.4.5 - 链接过程中NAD的处理
高比特率选择测试:
• §I.3.1 – A型程序
• §I.3.2 – B型程序
• §I.3.3 – 使用S（PARAMETERS）块的比特率选择程序
支持Python编辑修改脚本
Scriptis保存测试日志：TXT格式
Scriptis保存测试日志：xgpa格式
Scriptis保存测试日志：xdada格式
Scriptis支持导出报表：PDF格式
Scriptis支持导出报表：html格式
我司提供的Keolabs测试系统支持验证以下标准：
• EMV® Type Approval - Contactless Terminal Level 1
• EMV® Type Approval - Contactless Card Level 1
• NFC Forum Test Cases for Analog and Digital Protocol
• ISO/IEC 10373-6 Test Methods
• ISO/IEC 18745-2 Test Methods for the contactless interface
• CEN/TS 16794-2:2017 Public transport - Communication between contactless readers and fare media - Part 2: Test plan for ISO/IEC 14443
KEOLABS提供完整的测试解决方案，支持根据特定应用类型的行业标准对智能卡和读卡器进行内部验证，包括：
• 支付：验证您付款申请的合格解决方案 - 由EMVCo实验室使用
EMVCo Level 1 PCD Analog测试套件
EMVCo Level 1 PCD Digital测试套件
EMVCo Level 1 Reduced Range Terminal Analog测试套件
EMVCo Level 1 PICC Analog测试套件
EMVCo Level 1 PICC Digital测试套件
EMVCo Level 1 Mobile Analog测试套件
• 电子护照和eID产品：验证您的身份申请的解决方案 - 由National Printing Companies使用
ISO 10373-6/ISO 18745-2 PICC Analog测试套件
ISO 10373-6/ISO 18745-2 PICC Digital测试套件
ePassport-eMRTD Application测试套件
eID-应用程序EAC V2和IAS ECC测试套件
eDL-应用ISO 18013-4测试套件
• 访问控制、交通和智能对象：验证您的交通或访问控制应用程序的解决方案 - 由交通运营商使用
ISO 10373-6 PICC Analog测试套件
ISO 10373-6 PICC Digital测试套件
ISO 10373-6 PCD Analog测试套件
ISO 10373-6 PCD Digital测试套件
• 移动、汽车制造商：验证NFC应用的合格解决方案 - 供移动或汽车制造商使用
NFC Forum Poller&Listener Analog测试套件
NFC Forum Poller&Listener Digital测试套件
NFC Forum Initiator&Target Applicative LLCP/SNEP测试套件
当前产品：ISO 10373-6非接终端测试系统
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