EMV测试设备：EMV L1非接触式终端测试系统

我司提供测试系统支持：

•EMVCo PCD Analog 非接终端模拟测试
•EMVCo PCD Digital 非接终端数字测试
•EMVCo Reduced Range非接终端射频测试
•EMVCo PICC Analog非接卡模拟测试
•EMVCo PICC Digital非接卡数字测试
•EMVCo Mobile Analog非接手机射频测试
•ISO/IEC 10373-6 PCD Analog非接终端模拟测试
•ISO/IEC 10373-6 PCD Digital 非接终端数字测试
•ISO/IEC ISO18745-2 (ICAO) PCD Analog非接终端模拟测试
•ISO/IEC ISO18745-2 (ICAO) PCD 非接终端数字测试
•CEN-TS 16794-2 (transport) PCD 非接终端模拟测试
•CEN-TS 16794-2 (transport) PCD 非接终端数字测试
•ISO/IEC 10373-6 PICC非接卡模拟测试
•ISO/IEC 10373-6 PICC非接卡数字测试
•ISO/IEC 18745-2 (ICAO) PICC非接卡模拟测试
•ISO/IEC 18745-2 (ICAO) PICC非接卡数字测试
•CEN/TS 16794-2 (transport) PICC非接卡模拟测试
•CEN/TS 16794-2 (transport) PICC 非接卡数字测试
•eMRTD PICC Application BAC/SAC/PACE电子护照应用层测试
•eMRTD PICC Application EAC电子护照应用层EAC测试
•eMRTD PCD Inspection System电子护照读卡器应用层测试
•NFC Forum Poller & Listener Analog 模拟测试
•NFC Forum Poller & Listener Digital 数字 NFC Forum 数字测试
•NFC Forum Initiator & Target LLCP/SNEP 应用测试

EMV测试系统套件介绍

我司提供一个完整的EMVCo Level 1 PCD Analog/Digital及Reduced Range非接触式终端读卡器射频协议测试系统。

本测试系统已通过EMVCo认证，为EMVCo授权认证的标准测试系统，可以用作非接触式终端EMVCo Level 1 PCD内部测试调试和正式的第三方合规性测试和认证。

软件平台SCRIPTIS介绍
SCRIPTIS™软件是一个完整、开放和简单的测试环境。它运行在用户的电脑上，可以自动控制测试系统内的所有硬件设备和软件功能模块，这个自动测试系统旨在按照相关行业标准测试智能卡、读卡器、相关组件和系统的射频、协议、性能等指标及标准符合性。

根据各个行业标准，我司智能卡测试工具可提供端到端产品和服务，用于验证和认证智能卡及相关技术。 我司产品参与安全交易和身份识别部门的所有主要认证流程，提供全面的解决方案，用于验证从电气到数字和应用层的所有接触层和非接触式安全组件。

SCRIPTIS通过为测试过程所必需的所有活动提供接口来简化测试过程，这些活动包括： 

• 用于查看、创建、修改和验证测试脚本的编辑器和调试器 

• 用于控制和自动化测试执行以及查看高级结果的管理界面 

• 特定测试用例相关信号可视化查看器 

编写或修改测试脚本

SCRIPTIS的集成编辑器提供了一个基于易于使用的Python编程语言的开放脚本开发环境

在这个环境中，用户可以创建自己的测试脚本，或者复制和修改KEOLABS测试套件中提供的脚本。集成调试接口允许用户在运行测试或测试活动之前验证和核实其测试脚本。

执行测试、查看和报告结果

测试管理接口旨在简化测试套件的组织和执行。此接口提供配置测试环境、协调测试执行、查看测试结果和创建报告的功能。

检查测试结果

查看器提供测试用例的更详细视图，以帮助用户更好地理解特定的结果。它提供了可视化数字信号和相关的定时，以便在被测设备和测试设备之间交换通信。查看器支持ISO 14443 A/B、ISO15693、Felica、NFC Forum和SWP等协议标准。

测试案例库通用介绍

测试案例库（测试套件）是用Python语言（文件扩展名*.py）编写的一组脚本，它们控制用于验证被测设备（DUT）的测试硬件设备或测试系统的执行。这些脚本化测试以符合相关测试标准的方式管理测试硬件。每个测试套件对应于特定的测试标准要求。 

KEOLABS 的测试脚本也可以作为开发特定于用户的测试用例的起点，用户可以使用SCRIPTIS™编辑和调试环境复制和修改脚本。帮助文件提供了脚本中使用的每个命令的详细说明。

测试案例库EMV PCD Analog Test Suite介绍

EMVCo L1 PCD Analog非接终端模拟测试套件符合以下标准：

EMVCo® Type Approval Contactless Terminal Level 1 PCD Analog Test Cases - Version 3.1  

我们对本测试规范的涵盖范围包括以下测试用例（根据EMVCo 3.1a版本编号）：

射频功率
•§8.8.1.1. TAB111.x.1.zrf – 验证PCD带PICC的电源传输
•§8.8.1.2. TAB112.1.1.200 – 验证PCD载波频率
•§8.8.1.3. TAB113.0.0.z00 – 验证PCD操作区域重置
•§8.8.1.4. TAB114.0.0.200 – 验证操作区域的PCD电源关闭
•§8.8.1.5. TAB115.1.3.200 – 轮询时序列支持其他技术
A型通信的PCD 至PICC信号接口
• §8.8.2.1. TA121.z00 - 验证t1 时序
• §8.8.2.2. TA122.z00 - 验证从V4到V2的单调递减
• §8.8.2.3. TA123.z00 - 验证铃声
• §8.8.2.4. TA124.z00 - 验证t2 时序
• §8.8.2.5. TA125.z00 - 验证t3和t4 时序
• §8.8.2.6. TA127.z00 - 验证从V2 到V4 的单调递增
• §8.8.2.7. TA128.z00 - 检验超调量
A型通信的PICC 至PCD信号接口
• §8.8.3.1. TA131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1，pp
• §8.8.3.2. TA132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2，pp
• §8.8.3.3. TA133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1，pp
• §8.8.3.4. TA134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2，pp
• §8.8.3.5. TA135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1，pp
• §8.8.3.6. TA136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2，pp
• §8.8.3.7. TA137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1，pp
• §8.8.3.8. TA138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2，pp
• §8.8.3.9. TA139.000 - 验证FDTA，PICC公差
A型通信的位级编码信号接口
• §8.8.4.1. TA141.200 - 验证PCD传输的比特率
• §8.8.4.2. TA142.200 - 验证位编码和PCD 至PICC的去同步
• §8.8.4.3. TA143.200 - 验证位编码和PICC 至PCD的去同步
用于A类通信的PCD IQ解调
•§8.8.8.1. TA151.5.4.200 验证PCD IQ解调
B型通信的PCD至PICC信号接口
• §8.8.5.1. TB121.z00 - 验证调制指数
• §8.8.5.2. TB122.z00 - 验证下降时间
• §8.8.5.3. TB123.z00 - 验证上升时间
• §8.8.5.4. TB124.z00 - 验证单调上升沿
• §8.8.5.5. TB125.z00 - 验证单调下降沿
• §8.8.5.6. TB126.z00 - 验证超调量
• §8.8.5.7. TB127.z00 - 验证未及点
B型通信的PICC 至PCD信号接口
• §8.8.6.1. TB131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1，pp
• §8.8.6.2. TB132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2，pp
• §8.8.6.3. TB133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1，pp
• §8.8.6.4. TB134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2，pp
• §8.8.6.5. TB135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1，pp
• §8.8.6.6. TB136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2，pp
• §8.8.6.7. TB137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1，pp
• §8.8.6.8. TB138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2，pp
用于B型通信的比特级编码信号接口
•§8.8.7.1. TB141.1.3.200 - 验证PCD传输的比特率
•§8.8.7.2. TB142.1.3.200 - 验证PCD与PICC的同步、位编码和去同步
•§8.8.7.3. TB145.1.3.200 - 验证PICC到PCD的最大不同步限制（tFSOFF，MAX）
•§8.8.7.4. TB147.1.3.200 - 用B类通信验证比特边界
•§8.8.7.5. TB148.1.3.200 - 验证PICC到PCD的最小失步限制（tFSOFF，MIN）
用于B型通信的PCD IQ解调
•§8.8.9.1. TB151.5.4.200 验证PCD IQ解调

测试案例库EMV PCD Digital Test Suite介绍

EMVCo L1 PCD Digital非接终端模拟测试套件符合以下标准：

EMVCo® Type Approval Contactless Terminal Level 1 PCD Digital Test Cases - Version 3.1 

我们对本测试规范的覆盖范围包括以下测试用例（根据EMVCo版本3.1a进行编号）：

A型测试
•§4.1. TA001 -基本A类交换（单尺寸UID）和计时测量
•§4.2. TA002 – A型正确移除
•§4.3. TA003.x - 基于A类交换机的PCD到PICC的最小和默认最大帧延迟时间
•§4.4. TA101.x - 具有双倍和三倍UID大小的A型安装
•§4.5. TA102.x - 支持ATQA值的A型安装
•§4.6. TA103.x - 支持SAK 和ATS 的TA(1)字节值的A 型安装
•§4.7. TA104.xy - 支持ATS的TL字节（和历史字节）值的A 型安装
•§4.8. TA105.xy - 在ATS的TB（1）字节中支持SFGI值的A 型安装
•§4.9. TA106.x - 支持ATS的TC（1）字节值的A型安装
•§4.10. TA108 - 使用响应HLTA命令的A型框架的A 型安装
•§4.11. TA110.x - 具有不同ATQA值的A型安装
•§4.12 TA112.x  - 每次PICC响应后出现“噪音”的A类安装
•§4.13. TA201.xy - A类无错误的非链式I-Block交换所有可能的FWT值
•§4.14. TA202.xy - 类型A对于FSC的不同值在两个方向上的无错误链式I-Block
•§4.15. TA203.xy - 类型A FSC=16到256字节的无错误链式I-Block传输
•§4.16. TA204 - A型无错误请求在非链式I-Block上延长帧等待时间
•§4.17. TA205 - 类型A双向链接期间帧等待时间扩展的无错误请求
•§4.18. TA206 - 具有不同FSD值的两个方向上的A类无错误链式I-Block
•§4.19. TA210 - 具有罕见帧大小的A类无差错链式I-Block接收
•§4.20. TA215.x - 对于不同的帧等待时间值，具有最小帧延迟时间PCD到PICC的A类无错误交换
•§4.21. TA216.x 每次PICC响应后，A类I-Block交换和请求具有“噪声”的帧等待时间延长
•§4.22. TA301.xy – 在WUPA后出现错误的A类轮询
•§4.23. TA302.xy - 防撞 CL1之后出错的A类碰撞检测
•§4.24. TA303 - 检测A型然后B型PICC的A型轮询
•§4.25. TA304.xy – 在WUPA后出现错误的A类碰撞检测
•§4.26. TA305.xy – 在选择CL1后出现一个错误的A类碰撞检测
•§4.27. TA306.xy – 在RATS后出现错误的A型激活
•§4.28. TA307.x – 在RATS后用“噪音”激活A型
•§4.29. TA310 - 在防撞CL1后超时的 A类碰撞检测
•§4.30. TA311.x – 在WUPA后超时的A类碰撞检测
•§4.31. TA312 – 在选择CL1后超时的A类碰撞检测
•§4.302. TA313 – 在RATS后超时的A型激活
•§4.33. TA335.xy – 在RATS后用EMD抑制行为所对应的A型激活
•§4.34. TA340.x - 在RAT后“失聪时间”锁对应的A型激活
•§4.35. TA401.xy – 在不指示链接的I-Block上的A型错误通知
•§4.36. TA402 - 在不指示链接的I-Block上的A型超时
•§4.37. TA403.x - 在不指示链接的I-Block上的A型传输错误
•§4.38. TA404.x - 在不指示链接的I-Block上的A型协议错误
•§4.39. TA405.xy - 指示链接的I-Block上的A型错误通知
•§4.40. TA406 - 指示链接的I-Block上的A型超时
•§4.41. TA407.x - 指示链接的I-Block上的A型传输错误
•§4.42. TA408.xy - 指示链接的I-Block上的A型协议通知
•§4.43. TA409.xy – 在R（ACK）块后的A型超时（即错误通知）
•§4.44. TA410.x – 响应R（ACK）块的A型传输错误
•§4.45. TA411.xy - 响应R（ACK）块的A类协议错误
•§4.46. TA412.xy – 在S（WTX）响应块（WTXM的几个值）之后的A型单个超时
•§4.47. TA413 - 在单个S（WTX）请求后FWT扩展 的A型重复使用
•§4.48. TA414.x - 响应于未指示链接的I-Block的A型“噪声”
•§4.49. TA415.x - 响应于指示链接的I-Block的A型“噪声”
•§4.50. TA416.x - 响应R（ACK）块的A型“噪声”
•§4.51. TA417.xy - 响应发送来通知传输错误的R（NAK）块的A型协议错误
•§4.52. TA420 - 在 WUPA后出现错误的A 型删除
•§4.53. TA421 - 在S（WTX） 响应块后的A 型连续超时
•§4.54. TA430.xy - 关于EMD抑制行为的A型块协议
•§4.55. TA435.x - 关于EMD抑制行为的A型块协议
•§4.56. TA440 - 序列的前4个字节的A 型奇偶校验错误，以响应不指示链接的I-Block
•§4.57. TA441 - 序列的前4个字节的A 型奇偶校验错误，以响应指示链接的I-Block
•§4.58. TA442 - 序列的前4个字节的A 型奇偶校验错误，以响应R（ACK）块
•§4.59. TA443 - 序列的前4个字节中的A 型奇偶校验错误，以响应S（WTX）响应块
B型测试：
•§5.1. TB000 - B型预试验确定TR1PUTMIN
•§5.2. TB001 - 基本B型交换和计时测量
•§5.3. TB002.x - 支持SoS和EoS 的基本B类交换
•§5.4. TB003 - B型正确移除
•§5.5. TB004.x - 基于B 型交换的PCD 至PICC的最小和默认最大帧延迟时间
•§5.6. TB006.x - 基于B 型交换的PCD 至PICC的最小和默认最大帧延迟时间
•§5.7. TB101.x - 支持ADC值的B型安装
•§5.8. TB102.x - 支持ADC值的B型安装
•§5.9. TB104.x - 支持比特率功能值的B 型安装
•§5.10. TB106.x - 支持ADF 值的B 型安装
•§5.11. TB107.x - 支持协议类型b4-b2值的B 型安装
•§5.12. TB108.x - 支持MBLI 值的B 型安装
•§5.13. TB110.x - 具有不同ATQB值的B型安装
•§5.14. TB201.xy - 为所有可能的FWT 值的B型无错误非链式I-Block交换
•§5.15. TB202.xy - 为所有可能的FWT 值的B型无错误非链式I-Block交换
•§5.16. TB203.xy - 为FSC=16 至128字节的B 型无错误链式I-Block传输
•§5.17. TB204 - 非链式I-Block上的帧等待时间延长的B 型无错误请求
•§5.18. TB205 - 在双向链接期间帧等待时间延长的B 型无错误请求
•§5.19. TB206 - 具有不同FSD值的两个方向上的B型无错误链式I-Block
•§5.20. TB210 - 具有罕见帧大小的B 型无差错链式I-Block接收
•§5.21. TB215.x - 针对不同的帧等待时间值，有PCD 至PICC的最小帧延迟时间的B型无差错交换
•§5.22. TB301.xy - 在WUPB之后出现错误的B 型轮询
•§5.23. TB303 - 检测B型然后A型PICC 的B型轮询
•§5.24. TB304.xy - 在WUPB后出现错误的B 型碰撞检测
•§5.25. TB305.x - 在ATTRIB后用“噪声”激活B型
•§5.26. TB306.xy - 在ATTRIB后出现错误的B型激活
•§5.27. TB311.x - 在WUPB后超时的B 型碰撞检测
•§5.28. TB312.x - 在ATTRIB后超时的B型激活
•§5.29 TB335.xy - 在ATTRIB后用EMD抑制行为所对应的B型激活
•§5.30. TB340.x - 在ATTRIB后“失聪时间”所对应的B 型激活
•§5.31. TB401.xy - 在不指示链接的I-Block上的B 型错误通知
•§5.32. TB402 - 在I-Block不指示链接之后的B 型超时
•§5.33. TB403.x - 不指示链接的I-Block所对应的B型传输错误
•§5.34. TB404.xy -不指示链接的I-Block所对应的B 型协议错误
•§5.35. TB405.xy - I-Block指示链接上的B型错误通知
•§5.36. TB406 - I-Block指示链接之后的B 型超时
•§5.37. TB407 - 响应指示链接的I-Block的B型传输错误
•§5.38. TB408.xy - 响应I-Block指示链接的B 型协议错误
•§5.39. TB409.xy - 在R（ACK）块后的B 型超时（即错误通知）
•§5.40. TB410.x - 响应于R（ACK）块的B型传输错误
•§5.41. TB411.xy - 响应R（ACK）块时的B 型协议错误
•§5.42. TB412.xy - 在S（WTX）响应块（WTXM的几个值）之后的B型单个超时
•§5.43. TB413 - 在单个S（WTX）请求后FWT扩展的B 型重复使用
•§5.44. TB414.x - 响应I-Block不指示链接的B 型“噪声” 
•§5.45. TB415.x - 响应I-Block指示链接的B 型’噪声
•§5.46. TB415.x -响应于R（ACK）块的B 型“噪声”
•§5.47. TB417.xy - 响应发送来通知传输错误的R（NAK）块的B 型协议错误
•§5.48. TB420 - 在 WUPB后出现错误的B 型删除
•§5.49. TB421 - 在 S（WTX）响应块后的B型连续超时
•§5.50. TB430.xy - 关于EMD抑制行为的B型块协议
•§5.51. TB435.x - 关于“失聪时间”的B 型块协议

测试案例库EMV Reduced Range Test Suite介绍

EMVCo L1 Reduced Range非接终端模拟测试套件符合以下标准：

EMVCo® Type Approval Contactless Terminal Level 1 PCD Digital Test Cases - Version 3.1 

关于KEOLABS

KEOLABS是领先的测试微控制器和安全组件实施的工具和服务供应商，主要提供EMV测试设备，NFC测试设备，ISO14443，ICAO等测试设备。

根据各个行业标准，KEOLABS智能卡测试工具可提供端到端产品和服务，用于验证和认证智能卡及相关技术。 KEOLABS产品参与安全交易和身份识别部门的所有主要认证流程，提供全面的解决方案，用于验证从电气到数字和应用层的所有接触层和非接触式安全组件。

KEOLABS同时是一个ISO / IEC 17025认可的测试实验室，为安全组件部门的所有利益相关者（包括卡，手机，电子护照，电子驾照和读卡器）提供测试认证（包括ISO、NFC、EMV、ICAO等）服务。

关于KEOLABS的产品与服务

为了对智能卡、终端、安全组件、应用程序进行验证和认证，KEOLABS提供的产品与服务包括：

测试工具，用于智能卡及终端的芯片和产品设计测试。包括ProxiLAB，ContactLAB，ProxiSPY和NomadLAB等信号仿真器和分析仪用于测试非接触式智能卡/读卡器，支持测试NFC、ISO14443、FeliCa、ISO15693、SWP和ISO7816等。

认证方案，基于SCRIPTIS软件环境和KEOLABS测试平台，严格按照行业功能和应用标准进行完整的按钮测试，即：EMVCo、NFC论坛、ISO 14443、ISO 15693、国际民航组织ICAO、电子驾驶执照E-driving license等。

测试服务，KEOLABS测试实验室提供符合ISO10373-6，NFC论坛，国际民航组织ICAO，EMVCo，EAC，ISO18013，CIPURSE等行业标准的产品调试和一致性测试测试服务。 

关于KEOLABS测试工具

KEOLABS提供功能强大的测试工具，用于验证在一系列应用领域中使用的接触式和非接触式智能卡技术，包括身份（护照，驾驶执照），公共交通收费，门禁控制和付款等等。 

这些平台上支持的测试功能包括：

* 在数字和模拟/电气/射频层面的读卡器/卡片信号仿真
* 非侵入式信号捕获和协议分析（又称SPY功能）

平台允许验证一系列技术，包括NFC，ISO14443，FeliCa（ISO18025），ISO15693非接触式（13.56 Mhz）协议和SWP（HCI / HDLC），ISO7816，SPI和I2C接触协议。 平台配置和控制可以通过专用软件接口（RGPA - 实时协议分析器）或脚本（Python，JScript，...）来完成，它允许用户在特定的自动化场景中定义和执行信号序列。

关于KEOLABS测试认证套件

KEOLABS提供标准认证测试解决方案，便于对智能卡，读卡器和智能对象进行快速和完整的验证。 解决方案可用于验证从模拟和数字层到智能卡，读卡器和一系列NFC相关产品（手机，读卡器，标签，钥匙扣等）的应用层的产品。 

1, Level 1 Analog/digital测试认证套件
KEOLABS提供完整的解决方案，包括模拟测试台和配件，以便于您在模拟和数字级别的非接触式智能卡和读卡器内部验证各种行业标准，包括：
§  EMVCo 卡片、手机、读卡器，在支付领域
§  ICAO 电子护照和读卡器，在身份识别领域
§  CEN TS 16794-2 交通票据及读卡器，在交通领域
§  ISO10373-6 非接卡和读卡器，在通用领域
§  FeliCa 非接卡和读卡器

2, NFC测试认证套件

KEOLABS解决方案验证NFC手机，卡片，读卡器和其他相关对象的模拟层和数字层。 可用解决方案涵盖的标准包括：
§  NFC Forum 卡片、手机、读卡器的主动、被动、点对点模式
§  ETSI TS 102 694-2/695-2 HDLC, HCI 卡片
§  ETSI TS 102 694-1/695-1 HDLC, HCI 终端

3, 行业应用测试认证套件

KEOLABS提供完整的测试解决方案，支持根据特定应用类型的行业标准对智能卡和读卡器进行内部验证，包括：
§  身份识别
§  ICAO 电子护照eMRTD及读卡器  
§  ISO18013 (part 4)电子驾照eDrivers License
§  IAS ECC欧洲身份证EU identity card
§  支付应用
§  EMVCo银行卡、手机、读卡器等
§  票据应用
§  CIPURSE智能卡、标签、NFC手机、安全单元等

简言之我们可提供的标准测试认证套件包括：

请联系我们以了解更新信息。